電子元器件冷熱衝擊試驗的目的及操作流程
作者:
salmon範
編輯:
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來源:
www.sh2580.com
發布日期: 2019.08.10
1、前言
1.1 目的
確定元件曝露於高低溫極值下,以及高低溫極值交替衝擊下所具有的抗禦能力。
1.2 應用
試驗樣品的失效數應以後檢測為依據。
2、試驗條件
2.1極值溫度及循環次數
見表1.
2.2 極值溫度下的試驗時間
見表2
3、對試驗 設備的要求
3.1
麻豆AV一区二区三区應能提供第2章表1所規定的極值溫度條件。
3.2
麻豆AV一区二区三区應符合GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗方法 總則》第4.4條a的規定。
3.3麻豆AV一区二区三区應有足夠的熱容量,以便試驗樣品放入試驗箱後,在5min內工作空間就能達到所規定的溫度值。
3.4試驗樣品的安裝和支撐架的導熱率應低,以保證試驗樣品與安裝和支撐架間處於一種絕熱狀態。
4、試驗程序
4.1初始檢測
在試驗的標準大氣條件下,按有關標準的規定對試驗樣品進行外觀檢查和性能檢測。
4.2試驗 樣品的安裝
試驗樣品的安裝由有關標準規定,當裝入麻豆AV一区二区三区時,應使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗樣品。
4.3試驗
4.3.1將試驗樣品置於低溫箱中,此時,低溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度,並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
4.3.2保溫 時間到,在5min內將試驗樣品從低溫箱移至高溫箱中。此時,高溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度,並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫。
4.3.3保溫時間到,在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度,並在此溫度下按4.3. 1款的試驗時間進行保溫。
4.3.4按表1規定的循環次數,重複4.3.1至4.3.3款。一次循環包括表1中的步驟1至步驟4。
初的5次循環應連續地進行。5次循環後,在任何一次循環完成之後都可以中斷試驗。再恢複試驗之前可允許試驗樣品恢複到試驗的標準大氣條件。
4.4中間檢測
由有關標準規定
4.5 恢複
後循環結束,試驗樣品置於試驗的標準大氣條件下達到溫度穩定。4.6 後檢測
按有關標準規定對試驗樣品進行外觀檢查和性能測量。
5、失效數據
由有關標準規定。
6、采用本標準時應規定的細則
a.安裝方法(見4.2條);
b.以字母為代號的試驗條件(見4.3.1.4.3.2及4.3.4款);c. 初始、中間及後檢測(見4.1.4.4及4.6條)。