麻豆传媒污在线观看儀器:聚焦“半導體器件HAST試驗箱”主業,發揮自身技術優勢
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salmon範
編輯:
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來源:
www.sh2580.com
發布日期: 2021.07.06
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半導體器件測試HAST試驗箱解決方案
在半導體器件生產過程中,很多時候會因外部環境問題導致產品失效、損耗,特別是芯片和封裝的因數變化還無法達到使用的需求。因此,在半導體器件批量生產前需做一係列的可靠性測試,評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環境下的可靠性。
一般通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接麵。此試驗應力產生的失效機理通常與“85/85”穩態溫濕度偏置壽命試驗(見IEC 60749-5)相同。試驗方法可以從85℃/85% RH穩態壽命試驗或本試驗方法中選擇。在執行兩種試驗方法時,85℃/85%RH穩態壽命試驗的結果優先於強加速穩態濕熱試驗(HAST)。
>> HAST試驗箱
麻豆传媒污在线观看儀器HAST試驗箱用於評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。通過溫度、濕度、大氣壓力條件下應用於加速濕氣的滲透,可通過外部保護材料(塑封料或封口),或在外部保護材料與金屬傳導材料之間界麵。它采用了嚴格的溫度,濕度,大氣壓、電壓條件,該條件會加速水分滲透到材料內部與金屬導體之間的電化學反應。失效機製:電離腐蝕,封裝密封性。
HAST試驗箱產品特點:
可定製BIAS偏壓端子組數,提供產品通電測試
通過電腦安全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數據保護
便捷的程序入口、試驗設置和產品監控
試驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸
可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件。