可按需定製
溫度範圍：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可選
壓力範圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)
濕度範圍：65%～100%R.H(可調)
濕度波動度：非飽和控製：±2.5%R.H 、濕潤飽和控製：100%R.H
HAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。
HAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。
一般用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等，若待測品是半導體，則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路等相關問題。
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標準設計更安全
內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規範；
多重保護功能
各種超壓超溫、幹燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩定性更高
控製模式分為幹濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩定性；
濕度自由選擇
飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出保存
400電話
